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紫外輻照計(jì)（單通道）

紫外輻照計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

產(chǎn)品型號(hào)：LYUV-A
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-08-30
訪問量：1688

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詳細(xì)介紹

紫外輻照計(jì)主要性能指標(biāo)：

* 波長范圍及峰值波長：

（1）UV－365探頭：（光譜響應(yīng)曲線見圖）

λ：（320～400）nm；λ_P＝365nm

（2）UV－420探頭：（光譜響應(yīng)曲線見圖）

λ：（375～475）nm；λ_P＝420nm

* 輻照度測(cè)量范圍：

（0.1～199.9×10³）μW/cm²

* 紫外帶外區(qū)雜光：

UV365：小于0.02％

UV420：小于0.02％

* 準(zhǔn)確度：

±10％

* 角度響應(yīng)特性：

符合國家二級(jí)光照度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)

* 響應(yīng)時(shí)間：

1秒

* 使用環(huán)境：

溫度（0～40）℃；濕度＜85％RH

* 尺寸和重量：

180mm×80mm×36mm；0.2kg

* 電源：

6F22型9V積層電池一只

紫外輻照計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

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紫外輻照計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

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